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電容電壓(C-V)特性測試儀技術參數

發布時間: 2022-11-16  點擊次數: 472次

電容電壓(C-V)特性測試儀型號:KCV-300

1.概述
KCV-300型電容電壓(C-V)特性測試儀是測試頻率為1MHz的數字式電容測試儀器。**用于測量半導體器件PN結勢壘在不同偏壓下的電容量,也可測試其它電容。
儀器有較高的分辨率,電容量是四位讀數,可分辨到0.001pF,偏置電壓分辨率為0.01V,漏電流分辨率為0.01μA。
該測試儀器性能穩定可靠,功能齊全,精度高,操作簡單,適用于元件生產廠家,科研部門,高等院校等單位。
2. 技術參數
      (1)測試信號頻率:1.000MHz±0.01%
      (2)測試信號電壓:≤100mVrms
      (3)測量速率:慢3次/秒,快5次/秒
      (4)測量范圍:
  電容C:0.001-10000 pF
  漏電流:0.1-199.9μA
      (5)直流偏壓:儀器自帶偏壓0.01-35V,可外接偏壓源拓展,**大偏壓輸入為100V
      (6)預熱時間:30min
      (7)供電電源:
  交流電壓:220V±10%
  頻率:50Hz±5%
  消耗功率:≤40W
      (8)工作環境
                  溫度:0-40℃
                  濕度:20%-90%RH
      (9)外形尺寸:400mm×135mm×450mm(寬×高×深)
      (10)儀器重量:10Kg


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