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負壓式密封檢測儀TD-MFY-03

負壓式密封檢測儀TD-MFY-03

簡要描述:負壓式密封檢測儀TD-MFY-03

通過對真空室抽真空,使浸在水中的試樣產生內外壓差,觀測試樣內氣體外逸情況,以此判定試樣的密封性能;通過對真空室抽真空

產品型號:

所屬分類:專業(yè)儀器

更新時間:2024-09-20

廠商性質:其他

詳情介紹
品牌其他品牌

負壓式密封檢測儀TD-MFY-03

產品型號:TD-MFY-03(負壓)

負壓式密封檢測儀TD-MFY-03產品用途:于食品、制藥、醫(yī)療器械、日化、汽車、電子元器件、文具等行業(yè)的包裝袋、瓶、管、罐、盒等的密封試驗。亦可進行經跌落、耐壓試驗后的試件的密封性能測試
通過對真空室抽真空,使浸在水中的試樣產生內外壓差,觀測試樣內氣體外逸情況,以此判定試樣的密封性能;通過對真空室抽真空,使試樣產生內外壓差,觀測試樣膨脹及釋放真空后試樣形狀恢復情況,以此判定試樣的密封性能。

 

 

 

 

 產品名稱:顯微硬度計 
產品型號:TD-HV1000B

 顯微硬度計 型號:TD-HV1000B

TD-HV1000B型顯微硬度計 
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TD-HV1000B型顯微硬度計 
該機采用無摩擦主軸,試驗力精度高;高精度光學測量系統(tǒng),精密坐標試臺;中英文界面轉換; 
試驗過程自動化,操作簡單,無人為操作誤差;可選配努氏壓頭進行努氏硬度試驗;可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統(tǒng);精度符合GB/T4340.2, ISO6507-2和ASTM E384。  
顯微硬度計主要應用范圍 
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬;薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件;材料強度、熱處理、碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度;于平行平面和微小零件及薄零件的精密維氏測量。 
顯微硬度計主要技術參數(shù) 
硬度測量范圍:5-3000HV 
試 驗 力:0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807牛頓 
               (10、25、50、100、200、300、500、1000克力) 
顯微硬度計 硬度標尺:HV0.01、HV0.025、HV0.05、HV0.1、HV0.2、HV0.3、HV0.5、HV1 
測量系統(tǒng)放大倍數(shù):400倍(測量)、100倍(觀察) 
測量系統(tǒng)分辨率:0.25微米                測量系統(tǒng)測量范圍:200微米 
精度:符合GB/T 4340.2-1999           試件允許大高度:75毫米 
壓頭中心至機壁距離:110毫米            電     源:交流220伏, 50赫茲 
外形尺寸:470 x 320 x 500毫米         重     量:約40公斤 
主要附件  
座標試臺:1個                    平口鉗:  1個                                     
薄板試臺:1個                   大V形塊: 1個 
細軸試臺:1個                   小V形塊: 1個 
金剛石角錐壓頭:1只           打印機:   1個 
標準顯微硬度塊:2塊

 

 

 

 

產品名稱:數(shù)字式電阻率測試儀 電阻率測試儀
產品型號:M-2 

數(shù)字式電阻率測試儀 電阻率測試儀型號:M-2

M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置,它可以測量片狀,塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴散層的薄層電阻(也稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導體的低,中值電阻進行測量 
M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置,它可以測量片狀,塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴散層的薄層電阻(也稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導體的低,中值電阻進行測量。 
儀器由主機,測試探頭(可選配測試臺)等部分組成,測試結果用數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源,高分辨率ADC,嵌入式單片機系統(tǒng)組成,自動轉換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成,定位準確,游移率較小,壽命長。 
儀器于半導體材料廠,半導體器件廠,科研單位,高等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別于要求快速測量中低電阻率的場合. 
M-2型數(shù)字式電阻率測試儀工作條件為: 
溫度: 
相對濕度: 60% ~ 70% 
工作室內應無強電磁場干擾,不與高頻設備共用電源 
  
二·M-2型數(shù)字式電阻率測試儀 技術參數(shù) 
1. 測量范圍: 
電阻率:10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻:10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻:10 -3  ~ 9999Ω 
2. 可測半導體材料尺寸 
直徑:15mm-100mm 
長(或高)度:≤400mm 
3. 測量方位: 
軸向,徑向均可 
4. 數(shù)字電壓表 
量程:2V 
誤差: :± 0.1% FSB ± 2LSB 
大分辨力:10μA 
精度: 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示:4位數(shù)字顯示,小數(shù)點自動顯示 
5. 數(shù)控恒流源 
電流輸出: 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進可調,系統(tǒng)自動調整。 
誤差:± 0.1% FSB ± 0.5LSB  
6. 四探針測試探頭: 
探針間距: 1mm 
探針機械游移率:± 1% 
探針:碳化鎢,直徑0.5mm 
7.電源: 
DC 4.5V ~8V 
功耗: < 1W 
電源適配器:輸入: 220V±10% 50Hz 
輸出:DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸: 
主機: 170mm (長) X 130mm (寬) X50mm(高) 

 

 



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