品牌 | 同德 | 產地 | 國產 |
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葉片厚度測定儀 厚度檢測儀? 型號TC-YH-1
測量范圍:0-6mm
分辨率:0.01mm
精度:0.015mm
接觸面積:Φ10mm
讀取裝置:指針式
葉片厚度測定儀 厚度檢測儀?
測量范圍:0-6mm
分辨率:0.01mm
精度:0.015mm
接觸面積:Φ10mm
讀取裝置:指針式
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測量范圍:0-6mm
分辨率:0.01mm
精度:0.015mm
接觸面積:Φ10mm
讀取裝置:指針式
產品名稱:微電腦控制自動虹吸式洗砂機 產品型號: SXX-C |
微電腦控制自動虹吸式洗砂機型號: SXX-C
1.特點功能及用途:
本儀器用來測定原砂或舊砂中的含泥量的百分率,它是依照人工脫泥程序用微電腦控制的自動化設備,儀器在原SXX儀基礎上結構更簡單,操作方便和試驗結果穩定。
2.主要技術參數:
(1). 進水壓力 >0.1Mpa
(2). 靜置時間 10min±10s(2次) 5min±5S(n次)
程序中間靜止時間 0.5~1min
(3). 程序控制 自動沖洗→虹吸
(4). 虹吸口離水面高度 100㎜ 虹吸口離杯底距離 35㎜
2.主要技術參數:
(1). 進水壓力 >0.1Mpa
(2). 靜置時間 10min±10s(2次) 5min±5S(n次)
程序中間靜止時間 0.5~1min
(3). 程序控制 自動沖洗→虹吸
(4). 虹吸口離水面高度 100㎜ 虹吸口離杯底距離 35㎜
產品名稱:凍力測試系統 明膠凍力測試儀 產品型號:JS-II |
凍力測試系統 明膠凍力測試儀 型號:JS-II
JS-II凍力測試儀
凍力測試系統主要是用于來測定明膠在規定環境下的凝凍強度。明膠的凝凍強度,它是反映明膠生產工藝水平、控制明膠生產質量的一項重要指標。
系統組成:◎JS-II凍力儀主機1臺 ◎HW-Ⅲ精密恒溫監控冷水箱1臺 ◎ZL-Ⅲ高效制冷機1臺
標準:
◆標準《食品添加劑明膠》GB6783
◆標準《藥用明膠硬膠囊》GB13731
◆行業標準《藥用明膠》QB2354
◆行業標準《工業明膠》QB/T1995
◆行業標準《骨膠》QB/1996
◆行業標準《照相明膠》QB1997
凍力儀主機
技術指標:
◇滿足2010版《藥典》對測量時限的要求
◇電腦動態監控探頭壓入膠面深度誤差
◇智能液晶顯示
◇測試范圍:5-1000Bloomg
◇測試精度:±0.3%
◇分辨率: 1g
◇重復測量誤差:±1 Bloomg
◇采樣深度:1-60mm
◇行程誤差:≤±0.1mm
◇高速測量行程誤差:≤±0.1mm
◇測量值: 以Bioom g為單位
◇測量圓柱直徑:12.700±0.010mm
◇標準凍力瓶: 容量=150ml 內經=59mm 高度=85mm
◇整機功率:60W
◇外形尺寸:長*寬*高 260mm*260mm*450mm
凍力儀主機主要特點:
◎滿足專業人員繁多和復雜的測量要求的智能化專業機型。
◎采用高清晰度LCD液晶顯示屏,用戶可根據屏幕提示享受智能化操作,每一個操作過程均給出漢字提示和量化指標。
◎強大的數據處理能力,能自動為您提交被測膠樣的平均值、終值或峰值等參數。
◎提供單步、保持、循環、自動4種采樣測量模式,讓您操作更加得心應手。
◎自動測量模式,能幫助您更快捷、更準確、更逼近實際的獲得凝凍強度值。
◎儀器提供任意采樣深度預置,方便用戶提取膠樣的各層面數據。
◎提供5種采樣速度; 0.1mm/s 0.2mm/s 0.5mm/s 1mm/s 2mm/s。選擇高速測量,不產生探頭壓入膠面深度誤差。
◎采樣深度可任意預置(1mm----60mm)。
◎儀器提供2種采樣結果,配合采樣速度和采樣模式的不同測試組合,為用戶提交終值或峰值兩種。
◎專業級高精度壓力傳感器。
◎高精密機械傳動并配置4級防震設計。
◎用戶可自行檢定儀器本身的測量精確度。(用標準砝碼)
◎自動修正非線性誤差,自動故障診斷報警,自動量程保護,自動誤差校正提示。
恒溫水箱及制冷機
技術指標:
●水浴溫控范圍 (5~60.0)℃
●水浴溫控精度 ±0.1℃
●制冷時間 (30℃→10℃)<40min
●電源 220V/50Hz/1200W
●外型尺寸 HW-Ⅲ (58×44×22)cm3
ZL-Ⅲ (48×38×29)cm3
主要特點:
●恒溫水箱與制冷機組成精密恒溫冷水浴系統。
●采用磁性水泵循環水流勻熱系統,水浴溫度均勻。
●高精度溫度傳感器,線性誤差小,測溫精度高。
●全自動變頻控制技術,智能化控制溫度,溫控精度高。
●制冷機采用高可靠大功率新型壓縮機制冷,制冷速度快、噪音小。
●可以隨意預置溫度;分時顯示預置值和實時值。
●自動化,自動檢測、自動診斷、自動報警。
●恒溫水箱內膽為優質不銹鋼材質,控溫范圍廣,外形美觀大方。
產品名稱:數字IC測試儀 產品型號:TD-ICT-33C |
數字IC測試儀/集成電路測試儀 型號:TD-ICT-33C
功能特征
TD-ICT-33C集成電路測試儀:
可測1300種器件.
可對器件好壞判別,型號判別,老化測試,
器件代換查詢,內部RAM數據修改,
EPROM、EEPROM器件讀出寫入.
功 能 參 數
主要功能
器件好壞判別:當不知被測器件的好壞時,儀器可判斷其好壞。
器件型號判別:當不知被測器件型號時,儀器可依據其邏輯功能來判斷其型號。
器件老化測試:當懷疑被測器件的穩定性時,儀器可對其進行連續老化測試。
器件代換查詢:儀器可顯示有無邏輯功能*、引腳排列*的器件型號。
內部RAM數據修改:ICT?/FONT>33C可從鍵盤對自己內部RAM 中的數據進行隨機修改。
EPROM、EEPROM器件讀入:ICT?/FONT>33C可將64K以內的EPROM、EEPROM器件內的數據進行讀入并保存。
EPROM、EEPROM器件寫入:ICT?/FONT>33C可將內部RAM中的數據寫入到64K以內的EPROM、EEPROM器件中,并自動校驗。
可 測 器 件(1300多種)
CMOS40系列:103種。
CMOSMC140系列:103種。
CMOS45系列:60種。
CMOSMC145系列:60種。
光耦合器系列:133種。
TTL74/54系列:714種。
TTL75/55系列:82種。
數碼管系列:
0.5吋共陽[001];共陰[002];0.3吋共陽[003];共陰[004];0.7吋共陽[005];共陰[006]。
常用RAM系列:
2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128
EEPROM系列:
2816 2817 2864 28256 28040 29101
EPROM系列:
2716 2732 2764 27128 27256 27512
微機外圍電路系列:
8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC(8O2)
常用單片機系列:
8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752
其他系列:
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506
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